手持式X射線(xiàn)熒光光譜儀是一種使用方便，攜帶方便，保養(yǎng)維護(hù)方便的測(cè)量?jī)x器，手持式X射線(xiàn)熒光光譜儀能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無(wú)標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測(cè)量樣品的大尺寸要求為直徑51mm,高40mm.

　　手持式X射線(xiàn)熒光光譜儀一般有三點(diǎn)分析模式：

　　1、點(diǎn)分析

　　將電子探針固定在試樣感興趣的點(diǎn)上，進(jìn)行定性或定量分析。該方法用于顯微結(jié)構(gòu)的成份分析，例如對(duì)材料晶界、夾雜、析出相、沉淀物、奇異相及非化學(xué)計(jì)量材料的組成等分析。

　　2、線(xiàn)分析

　　電子束沿一條分析線(xiàn)進(jìn)行掃描(或試樣掃描)時(shí)，能獲得元素含量變化的線(xiàn)分布曲線(xiàn)。如果和試樣形貌像(二次電子像或背散射電子像)對(duì)照分析,能直觀地獲得元素在不同相或區(qū)域內(nèi)的分布。沿感興趣的線(xiàn)逐點(diǎn)測(cè)量成分，也可以劃出該線(xiàn)的成分變化曲線(xiàn)。

　　3、面分析

　　將電子束在試樣表面掃描時(shí)，元素在試樣表面的分布能在CRT上以亮度分布顯示出來(lái)（定性分析)，亮度越亮，說(shuō)明元素含量越高。研究材料中雜質(zhì)、相的分布和元素偏析常用此方法。面分布常常與形貌像對(duì)照分析。

　　手持式X射線(xiàn)熒光光譜儀的使用注意事項(xiàng)：

　　1、儀器會(huì)產(chǎn)生電離輻射，在測(cè)試時(shí)確保不要將儀器對(duì)著人；不要將儀器對(duì)著空氣做測(cè)試；不要用手拿著樣品做測(cè)試；

　　2、在運(yùn)作狀態(tài)時(shí)，勿打開(kāi)儀器的防護(hù)蓋或勿將測(cè)試儀器對(duì)準(zhǔn)人體；

　　3、每次開(kāi)啟儀器和每連續(xù)工作4小時(shí)，須對(duì)儀器進(jìn)行校驗(yàn)；

　　4、嚴(yán)禁非專(zhuān)門(mén)的人員操作該儀器，操作時(shí)必須按照操作步驟進(jìn)行，任何錯(cuò)誤的操作，均會(huì)導(dǎo)致儀器的測(cè)試結(jié)果及使用壽命。