x射線熒光光譜儀的分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復(fù)操作可能性，所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品必須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。
X 射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。
X射線熒光光譜儀
下面我們盤點下x射線熒光光譜儀測量時候產(chǎn)生誤差的一些原因。
1、樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
?。?）固體塊狀樣品 包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品 包括各種礦產(chǎn)品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
?。?）液體樣品 油類產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過化學方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等。
2、由樣品制備和樣品自身引起的誤差：
?。?） 樣品的均勻性。
?。?） 樣品的表面效應(yīng)。
?。?） 粉末樣品的粒度和處理方法。
?。?） 樣品中存在的譜線干擾。
?。?） 樣品本身的共存元素影響即基體效應(yīng)。
?。?） 樣品的性質(zhì)。
?。?） 標準樣品的化學值的準確性。
3、引起樣品誤差的原因：
?。?）樣品物理狀態(tài)不同，樣品的顆粒度、密度、光潔度不一樣；樣品的沾污、吸潮，液體樣品的受熱膨脹，揮發(fā)、起泡、結(jié)晶及沉淀等。
?。?）樣品的組分分布不均勻 樣品組分的偏析、礦物效應(yīng)等。
?。?）樣品的組成不一致 引起吸收、增強效應(yīng)的差異造成的誤差
?。?）被測元素化學結(jié)合態(tài)的改變 樣品氧化，引起元素百分組成的改變；輕元素化學價態(tài)不同時，譜峰發(fā)生位移或峰形發(fā)生變化引起的誤差。
?。?）制樣操作 在制樣過程中的稱量造成的誤差，稀釋比不一致，樣品熔融不*，樣品粉碎混合不均勻，用于合成校準或基準試劑的純度不夠等。
x射線熒光光譜儀使用中不同樣品有不同的制樣方法。金屬樣品如果大小形狀合適，或者經(jīng)過簡單的切割達到X 熒光光譜儀分析的要求，只需表面拋光，液體樣品可以直接分析，大氣塵埃通常收集在濾膜上直接進行分析。而粉末樣品的制樣方法就比較復(fù)雜。
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